不同光照条件下基于INS-YOLOv7的绝缘子缺陷检测模型

朱正杰; 杨光; 邹丽

doi:10.11907/rjdk.241663

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不同光照条件下基于INS-YOLOv7的绝缘子缺陷检测模型

图形图像处理 | 更新时间：2025-09-30

- 不同光照条件下基于INS-YOLOv7的绝缘子缺陷检测模型
- An Defect Detection Model of Insulators Based on INS-YOLOv7 under Different Lighting Conditions
- “在绝缘子缺陷检测领域，研究人员提出了基于YOLOv7的改进算法INS-YOLOv7，有效提升了模型对小目标的识别能力，为绝缘子缺陷检测提供可靠保障。”
- 软件导刊 2025年24卷第9期页码：199-205
- 作者机构：
  
  1.大连交通大学轨道智能工程学院
  2.大连市区块链技术与应用重点实验室，辽宁大连 116052
- 作者简介：
  
  朱正杰（1996-），男，CCF学生会员，大连交通大学轨道智能工程学院硕士研究生，研究方向为智能算法及其应用
  杨光（1978-），男，大连交通大学轨道智能工程学院副教授、硕士生导师，研究方向为人工智能、模式识别、深度学习算法及应用
  邹丽（1980-），女，博士，CCF专业会员，大连交通大学轨道智能工程学院教授、硕士生导师，研究方向为智能计算、计算机视觉、大数据处理。
- 基金信息：
  
  辽宁省应用基础研究项目(2023JH2/101300236);辽宁省教育厅基本科研项目(LJKMZ20220844)
- DOI：10.11907/rjdk.241663
  中图分类号： TP317.4
- 收稿日期：2024-09-10，
  
  纸质出版日期：2025-09-15
- 稿件说明：
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朱正杰,杨光,邹丽.不同光照条件下基于INS-YOLOv7的绝缘子缺陷检测模型[J].软件导刊,2025,24(09):199-205.

ZHU Zhengjie,YANG Guang,ZOU Li.An Defect Detection Model of Insulators Based on INS-YOLOv7 under Different Lighting Conditions[J].Software Guide,2025,24(09):199-205.
朱正杰,杨光,邹丽.不同光照条件下基于INS-YOLOv7的绝缘子缺陷检测模型[J].软件导刊,2025,24(09):199-205. DOI： 10.11907/rjdk.241663.

ZHU Zhengjie,YANG Guang,ZOU Li.An Defect Detection Model of Insulators Based on INS-YOLOv7 under Different Lighting Conditions[J].Software Guide,2025,24(09):199-205. DOI： 10.11907/rjdk.241663.

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DOI：10.11907/rjdk.241663