基于改进ACR-YOLO的绝缘子缺陷检测研究

韩明; 张照坤; 于平平; 苏鹤

doi:10.11907/rjdk.241648

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基于改进ACR-YOLO的绝缘子缺陷检测研究

图形图像处理 | 更新时间：2025-09-30

- 基于改进ACR-YOLO的绝缘子缺陷检测研究
- Research on Defect Detection of Insulators Based on Improved ACR-YOLO
- “在绝缘子缺陷检测领域，专家提出了基于改进ACR-YOLO的目标缺陷检测算法，有效提升了检测精度和速度。”
- 软件导刊 2025年24卷第9期页码：181-188
- 作者机构：
  
  1.河北科技大学信息科学与工程学院，河北石家庄 050018
  2.石家庄学院未来信息技术学院，河北石家庄 050035
  3.河北工业大学电气工程学院，天津 300131
- 作者简介：
  
  韩明（1984-），男，博士后，CCF会员，河北科技大学信息科学与工程学院教授、硕士生导师，石家庄学院未来信息技术学院教授、研究方向为计算机视觉、图像处理等
  张照坤（1998-），男，河北科技大学信息科学与工程学院硕士研究生，研究方向为图像处理
  于平平（1984-），女，博士，河北科技大学信息科学与工程学院副教授、硕士生导师，研究方向为计算机视觉、人工智能等
  苏鹤（1993-），男，河北工业大学电气工程学院博士研究生，研究方向为电工装备可靠性理论及应用。
- 基金信息：
  
  中央引导地方科技发展资金项目(246Z0107G);河北省教育厅青年基金项目(QN2023185);石家庄市科技计划项目(221130321A)
- DOI：10.11907/rjdk.241648
  中图分类号： TP391
- 收稿日期：2024-07-30，
  
  纸质出版日期：2025-09-15
- 稿件说明：
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韩明,张照坤,于平平等.基于改进ACR-YOLO的绝缘子缺陷检测研究[J].软件导刊,2025,24(09):181-188.

HAN Ming,ZHANG Zhaokun,YU Pingping,et al.Research on Defect Detection of Insulators Based on Improved ACR-YOLO[J].Software Guide,2025,24(09):181-188.
韩明,张照坤,于平平等.基于改进ACR-YOLO的绝缘子缺陷检测研究[J].软件导刊,2025,24(09):181-188. DOI： 10.11907/rjdk.241648.

HAN Ming,ZHANG Zhaokun,YU Pingping,et al.Research on Defect Detection of Insulators Based on Improved ACR-YOLO[J].Software Guide,2025,24(09):181-188. DOI： 10.11907/rjdk.241648.

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DOI：10.11907/rjdk.241648